授課題目:FTIR反射量測配件簡介
業界講師:蔡傳盛經理
任職單位:珀金埃爾默股份有限公司經理
上課時間:101.4.10( 9 :20-12:10)
講座主持人:廖炳傑教授
記錄者:巧心儀
反射現象是光金由樣品表面輻射出來的現象,依照樣品表面反射出來的狀況不同又分為specular、diffuse、ATR反射。
specular(正反射):當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,發現在與入射角相同的反射角度
被量測到反射現象時,稱為正反射。
應用:金屬薄層、單層模分析、寶石鑑定、平滑面分析。
樣品表面需光滑,入射角度等於反射角度、可改變入射角度來增加IR吸收強度。
diffuse(散射):當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,發現反射出的光不均勻的分佈在各方
向而非固定在某一特定角度時,稱為散射。
應用:粗糙表面的固體樣品、可磨成細粉的固體、亦可以利用SiC來分析樣品表面的塗層。
得到粉末樣品的反射及繞射光譜、樣品表面及內部信號、廣角度反線光線、為了提高信號強度,樣品體積較小,得到約5-8%IR光強度。
ATR(全反射):當入射光自高折射率的介質入射至低折射率的介質,其入射光角大於臨界角時,就
會發生全反射的現象。
應用:常用晶體的選擇依晶體折射率的大小,選擇不同晶體Ge、Si、Zn等,常用配件的選擇依樣品不同可分為液體用、固體用、萬用型,依全反射次數分為單點式(萬用型)、多點式(液體用、固體用)。
樣品與高折射率之晶體緊密接觸,IR光譜從樣品表面通過,信號強度依接觸程度,反射次數,晶體材料有關。
FTIR的穿透式測量:固體、液體、氣體樣品測量。
固體穿透式技術─Mull Cell法、KBr鹽片法、Cast Films分析法、Hot Pressed Films分析法、
Beam Condenser法。
液體樣品技術。
氣體樣品技術。
聽完簡介,到了精密儀器室,業界講師介紹了FTIR的內部構造,讓大家更深刻了解機器的應用原理,也示範了壓碇的正確方法,讓同學在做樣品壓碇時可以正確的操作,不會把機器弄壞。
specular(正反射):當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,發現在與入射角相同的反射角度
被量測到反射現象時,稱為正反射。
應用:金屬薄層、單層模分析、寶石鑑定、平滑面分析。
樣品表面需光滑,入射角度等於反射角度、可改變入射角度來增加IR吸收強度。
diffuse(散射):當光以一個固定的入射角度照射至固體表面後,發現反射出的光不均勻的分佈在各方
向而非固定在某一特定角度時,稱為散射。
應用:粗糙表面的固體樣品、可磨成細粉的固體、亦可以利用SiC來分析樣品表面的塗層。
得到粉末樣品的反射及繞射光譜、樣品表面及內部信號、廣角度反線光線、為了提高信號強度,樣品體積較小,得到約5-8%IR光強度。
ATR(全反射):當入射光自高折射率的介質入射至低折射率的介質,其入射光角大於臨界角時,就
會發生全反射的現象。
應用:常用晶體的選擇依晶體折射率的大小,選擇不同晶體Ge、Si、Zn等,常用配件的選擇依樣品不同可分為液體用、固體用、萬用型,依全反射次數分為單點式(萬用型)、多點式(液體用、固體用)。
樣品與高折射率之晶體緊密接觸,IR光譜從樣品表面通過,信號強度依接觸程度,反射次數,晶體材料有關。
FTIR的穿透式測量:固體、液體、氣體樣品測量。
固體穿透式技術─Mull Cell法、KBr鹽片法、Cast Films分析法、Hot Pressed Films分析法、
Beam Condenser法。
液體樣品技術。
氣體樣品技術。
聽完簡介,到了精密儀器室,業界講師介紹了FTIR的內部構造,讓大家更深刻了解機器的應用原理,也示範了壓碇的正確方法,讓同學在做樣品壓碇時可以正確的操作,不會把機器弄壞。